Поиск в базе сайта:
Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики icon

Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики




НазваниеОсновы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики
Дата конвертации11.03.2013
Вес445 b.
КатегорияКурсовая


  • Название дисциплины:

  • Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики

  • Преподаватель:

  • Д. ф. - м. н., профессор,

  • Никитенков Николай Николаевич


  • ПРОДОЛЖИТЕЛЬНОСТЬ КУРСА: 2 семестра

  • РАСПЕПРЕДЕЛЕНИЕ УЧЕБНОГО ВРЕМЕНИ:

  • Лекции 56 часов(ауд.)

  • Лабораторные занятия 16 часов(ауд.)

  • Практические(семинарские) занятия 8 часов(ауд.)

  • Курсовая работа (темат. реферат) 16 часов(ауд.)

  • Всего аудиторных занятий 96 часов

  • Вне аудиторных занятий - чем больше, тем лучше!!!



Примерная! рейтинговая система оценки текущих и итоговых знаний



Двуединая цель преподавания курса: - подготовка специалиста, владеющего современными методами исследования материалов, основанными на измерении характеристик частиц и излучений, испускаемых поверхностью твердого телом, при воздействии фотонов, рентгеновского излучения и при бомбардировке электронами или тяжелыми частицами; и - имеющего представления о физических явлениях, лежащих в основе изучаемых методов.



Модули курса

  • Физические явления, лежащие в основе методов диагностики поверхности

  • Строение поверхности

  • Теоретические основы методов электронной спектроскопии

  • Теоретические основания методов ионной спектроскопии

  • Основные узлы сверхвысоко-вакуумных аналитических установок



Общие представления о методах анализа поверхности



Классификация физических явлений – эмиссий, лежащих в основе методов анализа поверхности

  • Ионная эмиссия (ИЭ):

  • факторы воздействия

  • ускоренные до энергий 1–10 КэВ ионы или атомы – это ионно-ионная или вторичная ионная эмиссия (ВИЭ);

  • нагревание материала - это термо-ионная эмиссия (ТИЭ);

  • электрические поля напряжённостью ~107 В/см - это полевая ионная эмиссия (ПИЭ);

  • облучение материала фотонами - это фото-ионная или радиационно- стимулированная ионная эмиссия;

  • облучение материала электронами - это электронно-ионная эмиссия (ЭИЭ);

  • 2. Электронная эмиссия (ИЭ) - аналогично п.1 в зависимости от возбуждающего фактора:

  • ионно-электронная эмиссия (ИЭЭ);

  • термо-электронная эмиссия (ТЭЭ);

  • полевая электронная эмиссия (ПЭЭ);

  • фото-электронная эмиссия (ФЭЭ);

  • электронно-электронная или вторичная электронная эмиссия (ВЭЭ);

  • 3. Фотонная эмиссия (ИЭ) - аналогично пп. 1 и 2 в зависимости от возбуждающего фактора:



^ ЭМИССИЯ  СПЕКТРОСКОПИЯ:

  • ЭМИССИЯ  СПЕКТРОСКОПИЯ:

  • ЭМИССИЯ – ЯВЛЕНИЕ,

  • СПЕКТРОСКОПИЯ – МЕТОД, ОСНОВАННЫЙ НА ДАННОМ ЯВЛЕНИИ.

  • ЭМИССИЯ – объект фундаментальных исследований,

  • СПЕКТРОСКОПИЯ – прикладной аспект фундаментальных исследований ЭМИССИЙ, позволяющий получать информацию о составе и структуре поверхности и твердого тела в целом.



^ Важнейшие инструментальные группы, необходимые для осуществления эксперимента по диагностике поверхност

  • Важнейшие инструментальные группы, необходимые для осуществления эксперимента по диагностике поверхности

  • Источники воздействия (электронные и ионные пушки или ускорители, источники рентгеновских, ультрафиолетовых и др. -квантов).

  • Анализаторы (энергетические, массовые, монохроматоры).

  • Детекторы отклика поверхности [цилиндры Фарадея, вторичные электронные и фотоэлектронные умножители (ВЭУ и ФЭУ), микроканальные пластины].

  • + электронно- и ионно-оптические устройства

  • Все это в высоком или сверхвысоком вакууме

  • + Электронные приборы, обеспечивающие работу указанных приборов и устройств (в том числе, блоки питания, измерительные приборы, вычислительная техника).







ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ

  • ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ

  • Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М. Рентгеновская структурная диагностика в исследовании поверхностных слоев. – М.: Мир, 1986.

  • Анализ поверхностей методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха) – М.: Мир,1987.

  • Карлсон Т.А.. Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия. – Л.: Машиностроение, 1981

  • Методы анализа поверхностей (под ред. А. Зандерны) – М.: Мир, 1979.

  • Нефедов В.М. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений. Справочник. – М.: Химия, 1984.

  • Петров Н.Н., Аброян И.А. Диагностика поверхности с помощью ионных пучков. – Л.: Изд-во ЛГУ, 1977.

  • Применение электронной спектроскопии для анализа поверхностей (под ред. И. Ибаха) - Рига: Зинатне, 1980.

  • Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел (под ред. Н.Г. Рамбиди) – М.: Наука, 1985.

  • Распыление твердых тел ионной бомбардировкой. Вып. 1 и 2 (под ред. Р. Бериша). – М.: Мир, 1984.

  • Физическая Энциклопедия в 5-ти томах. Москва. Научное издательство "Большая Российская энциклопедия", 1998 г.



Похожие:




©fs.nashaucheba.ru НашаУчеба.РУ
При копировании материала укажите ссылку.
свазаться с администрацией